时间:2023/5/18 阅读:559 关键词:IC芯片
第一步:测量IC芯片单结晶体管的PN结正向电阻
将万用表置R×1k档或R×100,测量发射极
如果与任一基极间的正向电阻
正常值=几千欧~十几千欧
它比普通二极管电阻值大
反向电阻阻值:趋于无穷大
一般情况,正向电阻阻值 > 100倍反向电阻阻值
第二步:测量IC芯片单结晶体管的基极电阻RBB
万用表仍置于R×1k或R×100档
测量基极b1、b2间的阻值
阻值应在2~10kΩ范围内
若阻值过大或过小,不可用.
第二步:测量IC芯片单结晶体管的负阻特性
测负阻特性
注意:在基极b1~b2间,外接10V直流电源
如上图所示,
正常:万用表表针应在无穷大处
单结晶体管处于截止状态,但末达到负阻区,发射极电流小
若:万用表表针向右方偏转,单结晶体管无负阻特性,不可用。
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