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如何测IC芯片中单结晶体管是否损伤

   时间:2023/5/18      阅读:559    关键词:IC芯片

 

第一步:测量IC芯片单结晶体管PN结正向电阻

将万用表置R×1k档或R×100测量发射极

 

如果与任一基极间的正向电阻

正常值=几千欧~十几千欧

它比普通二极管电阻

 

反向电阻阻值:趋于无穷大

 

一般情况,正向电阻阻值 > 100倍反向电阻阻值

 

 

第二步:测量IC芯片单结晶体管基极电阻RBB

万用表仍置于R×1kR×100

测量基极b1b2间的阻值

阻值应在210kΩ范围内

若阻值过大或过小,不可用.

 

 

第二步:测量IC芯片单结晶体管负阻特性

测负阻特性

注意:在基极b1b2外接10V直流电源

如何测IC芯片中单结晶体管是否损伤

如上图所示,

正常万用表表针应在无穷大处

单结晶体管处于截止状态,末达到负阻区,发射极电流小

 

万用表表针向右方偏转,单结晶体管无负阻特性,不用。